试述平面平晶的结构和用途。

　　平面平晶简称平晶。它是由光学玻璃研磨而成的具有两个端面的正圆柱体，用于以光波干涉法测量平面的平面度、直线度、研合性等的测量器具。

　　平品根据其功能不同分为单工作面平晶、双工作面平晶、开槽平晶和上平晶四种。一个端面为测量面的平晶称为单面平晶;两个端面为测量面的平晶称为双面平晶。单面平品和双面平晶区分标志是:单面平晶的商标编号刻在平晶非工作面上，双面平晶的商标编号刻在圆柱面中削平-的平面上，如图7-15所示。以技术光波干涉法检定量块用的上层平晶，有一角度为10°~12°的倾斜面及两刻线，其中一条刻线与倾斜面棱边平行，另一刻线与前一刻线相垂直。开槽平晶主要用来检定仪器中盘凸出的工作台。

　　平晶根据其用途的不同又可分为工作用平晶和传递用的标准平晶。工作用平晶分为1级、2级;标准平晶分为1等、2等。

　　平晶的外形尺寸见表7-4。

　　平晶用于检测量块、量规、测量仪器、量具工作面的平面度、直线度;平晶可用作标准平面使用，检测工件的平直度;在用光隙法检定直线度中，’常用作组成标准光隙的量块研合基体。

　　平晶的测量原理是什么?

　　平晶是利用光波干涉原理测量被测面平面度误差的。当平晶工作面和被测面接触后，两个表面之间就形成了一个空气隙，在平品的上方就可以看到一组干涉条纹，如图7-16所示。

　　从光源发出的光线S投射到表面后，一部分光反射后形成Si，另一部分光透过00‘表面，经过00表面的反射和。

　　如果光源采用的是单色光，则干涉条纹就是明暗相间的条纹;若光源为自然光或白光，则干涉条纹就是彩色条纹。当千涉条纹彼此平行且距离相等时，被测表面就是一个理想表面，当被测表面存在着平面度误差时，干涉条纹就是弯曲的，平面度误差较大时，干涉条纹为环形条纹。

　　怎么能通过平晶干涉条纹评判工件表面的状况

　　用平面平晶以光波干涉法测量工件的平面度时，根据干涉条纹的形状判断工件表面的形状大体有以下几种情况，如图7-17所示。

　　①当平晶与工件表面完全接触后，出现均匀的色彩，略加压力，色彩消除，呈现均匀的白色，此种情况可判定平面度无误差。如图7-17(a)。

　　②当平晶与工件表面接触后，在一边加压，出现相互平行的直线干涉条纹时，可判定该平面度无误差。如图7-17(b)。

　　③当平晶与工件表面接触后，‘在一边加压，出现圆心在压点一侧的同向弯曲干涉条纹时，可判定该平面是微凸球面。如图7-17(c)。

　　④当平晶与工件表面接触后，在一边加压，出现圆心在压点反向的弯曲干涉条纹时，可判定该平面是微凹球面。如图7-17(d)。

　　⑤当平晶与工件表面接触后，在一边加压，出现平行直线条纹，但边沿一段弯曲，则可判定该平面边缘部位有塌边。如图7-17(e)。

　　⑥当平晶与工件表面接触后，出现平行条纹，但中部有部分弯曲，则可判定该平面条纹弯曲部位有局部不平。如图7-17(f)。

　　⑦当平晶与工件表面接触后，出现环形条纹，且在中部微小加力时，条纹向中心移动，则可判定该平面为凹球形。如图7=17(g)。

　　⑧当平晶与’工件表面接触后，出现环形条纹，且在中部微小加压时，条纹向四周移动，则可判定该平面为凸球形。如图7-17(h)。